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輕觸開關(guān)在醫(yī)療儀器上的翹起和焊點(diǎn)開裂問題

分類:技術(shù)資料瀏覽:4947發(fā)表時間:2020-09-15 11:34:26

SMT輕觸開關(guān)在消費(fèi)電子產(chǎn)品及醫(yī)療手持設(shè)備中有著非常廣泛的應(yīng)用。其功能需要通過機(jī)械方式觸動以接通電流信號。在對SMT輕觸開關(guān)的失效進(jìn)行工藝分析和驗證時不僅涉及到SMT工藝,還需要涉及機(jī)械組裝工藝、測試及可靠性檢測等多個方面,因此SMT輕觸開關(guān)的失效分析具有很大的挑戰(zhàn)。從實(shí)際的失效分析過程來看,焊點(diǎn)失效并不是唯一的原因,其背后還有大量的其它因素,所以需要運(yùn)用到多種失效分析的手段和方法。

輕觸開關(guān)在醫(yī)療儀器上的翹起和焊點(diǎn)開裂問題

本文針對SMT輕觸開關(guān)翹起失效問題進(jìn)行了系統(tǒng)的分析如應(yīng)力測試分析、有限元分析、公差累積分析、可裝配性設(shè)計分析、實(shí)驗設(shè)計等,并給出了相應(yīng)的解決方案。

問題描述

在某醫(yī)療電子產(chǎn)品設(shè)計樣機(jī)驗證階段發(fā)現(xiàn)有輕觸開關(guān)翹起失效問題。不良現(xiàn)象是開關(guān)的焊腳與焊盤分離。雖然不良率只有0.2%,但未發(fā)生翹起的輕觸開關(guān)焊點(diǎn)已經(jīng)存在開裂現(xiàn)象,這是非常大的可靠性風(fēng)險。

不良樣品初步失效分析

為了確定解決問題的方向,使用同一批次的物料做小批量生產(chǎn),再現(xiàn)了故障現(xiàn)象。由此制定針對此問題的破壞性和非破壞性分析與檢驗的方案。

2D X-光檢查

X-光能有效檢查出外殼包封的開關(guān)翹起不良問題。但細(xì)小的裂紋是無法檢查出來的,需通過切片分析。

輕觸開關(guān)在醫(yī)療儀器上的翹起和焊點(diǎn)開裂問題

光學(xué)檢測

拆除外殼,取出PCBA,光學(xué)檢測很容易發(fā)現(xiàn)明顯翹起不良。但對于焊錫中的裂紋是很難檢查出來的。

輕觸開關(guān)在醫(yī)療儀器上的翹起和焊點(diǎn)開裂問題

切片分析

切片分析對揭示裂紋失效的原理是非常有用的方法,裂紋分布從腳后跟開始向下延伸到腳尖。

輕觸開關(guān)在醫(yī)療儀器上的翹起和焊點(diǎn)開裂問題

在1500倍顯微鏡下對裂紋進(jìn)行觀察與分析,機(jī)械沖擊應(yīng)力導(dǎo)致元件引腳從腳后跟開始與焊錫分離,隨著應(yīng)力的增加,裂紋從強(qiáng)度較弱的IMC層開始發(fā)生。

輕觸開關(guān)在醫(yī)療儀器上的翹起和焊點(diǎn)開裂問題

輕觸開關(guān)翹起和焊點(diǎn)開裂原因分析

根據(jù)切片分析結(jié)果,與機(jī)械應(yīng)力相關(guān)的因素就成為了故障失效分析的重要方向。魚骨圖有助于找出導(dǎo)致機(jī)械應(yīng)力的各種潛在因素,然后逐一進(jìn)行測試驗證。

組裝工序過程中較大應(yīng)力的假設(shè)驗證

在各組裝工序中,我們對四個最有可能產(chǎn)生較大機(jī)械應(yīng)力的工位進(jìn)行了應(yīng)力測試。這四個工位分別是:分板工位、熱熔焊接工位、外殼組裝工位和最終測試工位。

應(yīng)力片貼在輕觸開關(guān)位置,目的是得到輕觸開關(guān)位置在組裝時的最大應(yīng)力。 測試發(fā)現(xiàn)產(chǎn)生最大瞬間應(yīng)力是在分板工位,最大應(yīng)力值為810 ue。

參照IPC-9704A的標(biāo)準(zhǔn),分板過程中產(chǎn)生的最大應(yīng)力處于可接受的范圍。但還是有減少應(yīng)力峰值的空間,因此,需要安排進(jìn)一步的假設(shè)檢驗和驗證測試。

引腳焊點(diǎn)脆化的假設(shè)驗證

推力測試

取一個合格的樣品進(jìn)行推力測試,以檢測元件從焊盤上剝落時的最大推力值。通常作用于開關(guān)上的操作壓力最大為15牛頓,推力測試結(jié)果表明平均剝離值為72牛頓,遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過元件規(guī)格書上標(biāo)稱的29.4牛頓的極限值,表明開關(guān)焊接效要良好。

輕觸開關(guān)引腳鍍層檢測

輕觸開關(guān)元件腳材料是表面鍍銀的磷青銅,表面鍍銀可增強(qiáng)基底金屬的可焊性。然而過厚的鍍銀會導(dǎo)致焊點(diǎn)脆化。對SMT元件而言,銀鍍層厚度范圍通常從0.2微米到0.4微米。進(jìn)行X射線熒光檢測(XRF)時,參照ASTM B568 1998(2004)的標(biāo)準(zhǔn),在所有檢測區(qū)域的銀厚度是均勻的(0.3微米)。因此輕觸開關(guān)元件腳材料不是元件翹起和焊點(diǎn)開裂的原因。

元件引腳可焊性測試

由于銀鍍層容易與空氣中的硫反應(yīng)而變色,可能降低材料的可焊性,所以需要對引腳的可焊性進(jìn)行檢查。通過測試發(fā)現(xiàn)樣品的可焊性良好。因此,輕觸開關(guān)引腳的可焊性也不是翹起和焊點(diǎn)開裂的原因。

分板應(yīng)力

分板過程中產(chǎn)生的應(yīng)力可以通過對刀具和夾具進(jìn)行優(yōu)化而降低,但是效果十分有限。對PCB拼板設(shè)計進(jìn)行優(yōu)化也有可能大幅度地降低分板過程中產(chǎn)生的應(yīng)。PCB拼板不同的連接位置對元件在分板時所受的應(yīng)力有很大的影響,新的拼板設(shè)計改變了連接點(diǎn)的位置。通過改善設(shè)計,有限元FEA分析結(jié)果預(yù)測應(yīng)力減少了47%,這也將會大大降低輕觸開關(guān)翹起和焊點(diǎn)開裂的風(fēng)險。

干涉分析

干涉是產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力風(fēng)險最大的因素。因此,針對輕觸開關(guān)的相關(guān)結(jié)構(gòu)部件進(jìn)行了DFA分析,并通過有限元FEA分析對不同的設(shè)計方案進(jìn)行模擬比較,以確定降低機(jī)械應(yīng)力的優(yōu)化方案。通過分析,DFA分析人員發(fā)現(xiàn)原有設(shè)計存在過度機(jī)械應(yīng)力的潛在問題。由于沒有恰當(dāng)?shù)臉O限停止位置的設(shè)置,輕觸開關(guān)存在0.25mm的過壓距離,這為過度機(jī)械應(yīng)力的產(chǎn)生提供了可能。DFA分析人員通過與設(shè)計人員進(jìn)行討論確定了三種解決方案:

將輕觸開關(guān)處的PCB邊緣向外延伸

在背光板殼體處加筋

輕觸開關(guān)貼裝位置向板內(nèi)移動

對無限位和有限位的設(shè)計分別做了有限元分析,有限位的位移減少了29%,剪切應(yīng)力減少了20%。限位吸收了開關(guān)觸發(fā)過程中作用于引腳焊點(diǎn)上的大部分應(yīng)力。這也證明了增加限位的必要性。

定位腳與定位孔的公差配合

 輕觸開關(guān)的定位腳與PCB定位孔之間如有干涉將會對其SMT貼裝工序產(chǎn)生影響,如果其公差配合臨界,將會有一定的機(jī)械應(yīng)力風(fēng)險。通過對輕觸開關(guān)的定位腳和PCB定位孔的公差累積分析,計算出定位腳與定位孔之間的最小間隙為-0.063mm,也就是存在輕微干涉。因此,在SMT貼裝過程中存在輕觸開關(guān)的定位腳不能很好地插入PCB定位孔的風(fēng)險。嚴(yán)重的不良情況,在回流焊接前會被目視檢查位發(fā)現(xiàn)。輕微的不良將會遺漏到后道工序,并產(chǎn)生一定的機(jī)械應(yīng)力。根據(jù)均方根之和(Root Square Sum)分析法預(yù)測,該不良率為7153PPM。

建議將PCB定位孔尺寸和公差從0.7mm +/- 0.05mm修改為0.8mm +/- 0.05mm。針對優(yōu)化方案再次進(jìn)行公差累計分析。結(jié)果表明定位柱與定位孔之間的最小間隙為+0.037mm,干涉的風(fēng)險也就消除了。

器件結(jié)構(gòu)

    對目前使用的輕觸開關(guān)的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析,發(fā)現(xiàn)元件的兩個焊接引腳是懸空的,它同PCB焊盤之間有60um的間隙,這對SMT焊接工藝提出了挑戰(zhàn),需要考慮階梯鋼網(wǎng)的使用。 通過同供應(yīng)商和設(shè)計工程師的溝通,發(fā)現(xiàn)另外一種型號的4引腳的輕觸開關(guān)可以考慮。4引腳輕觸開關(guān)的引腳同焊盤之間沒有任何間隙,采用普通鋼網(wǎng)就可以滿足SMT工藝要求,而且4引腳輕觸開關(guān)對機(jī)械應(yīng)力的承受能力更強(qiáng)。因此,該型號的輕觸開關(guān)被引入到后續(xù)的試運(yùn)行中進(jìn)行了驗證。

輕觸開關(guān)在醫(yī)療儀器上的翹起和焊點(diǎn)開裂問題

機(jī)械應(yīng)力改善驗證與結(jié)果

    根據(jù)潛在因素驗證分析的結(jié)果,需要對分板過程中的過應(yīng)力,機(jī)械干涉,定位腳與定位孔的公差配合以及器件結(jié)構(gòu)這四個方面進(jìn)行改善驗證。在試運(yùn)行中,為了有效地檢查出開關(guān)翹起的缺陷,設(shè)計了一組專用的推力測試夾具。夾具在每個輕觸開關(guān)的位置均安裝有電氣控制的推力裝置,推力裝置可以持續(xù)產(chǎn)生15牛頓的推力并保持2秒鐘的時間。

輕觸開關(guān)在醫(yī)療儀器上的翹起和焊點(diǎn)開裂問題

增大PCB定位孔尺寸

PCB的引腳定位孔尺寸增大到0.8mm,提高了貼片的穩(wěn)定性?;亓骱蟀l(fā)現(xiàn)舊的PCB和新的PCB有明顯的不同。新PCB的輕觸開關(guān)引腳的墊高明顯降低了很多,而且相對于舊PCB,因焊點(diǎn)導(dǎo)致的輕觸開關(guān)整體傾斜減少了很多,這樣觸發(fā)時的作用力就可以垂直地作用于輕觸開關(guān)的按鈕上,減少了對焊盤的剪切作用。

 在使用專用推力測試夾具測試的過程中沒有發(fā)現(xiàn)任何輕觸開關(guān)剝離和翹起。但是在完成組裝再拆卸驗證時還是發(fā)現(xiàn)了輕觸開關(guān)剝離和翹起的不良。

改變輕觸開關(guān)貼裝位置(內(nèi)移)

根據(jù)DFA分析結(jié)果和推薦方案,輕觸開關(guān)的貼裝位置向內(nèi)移動移動150um,使PCB邊緣充當(dāng)限位特征來防止輕觸開關(guān)過壓的發(fā)生。使用專用推力測試夾具測試的結(jié)果是沒有任何開關(guān)翹起或剝離的不良。通過組裝后再拆卸也沒有發(fā)現(xiàn)任何開關(guān)起翹不良。

新舊開關(guān)的比較

舊的兩引腳的輕觸開關(guān)由于引腳的懸空高度是60um, 因此使用了階梯鋼網(wǎng)。新的四引腳輕觸開關(guān)的引腳沒有懸空,采用普通的鋼網(wǎng)。切片分析數(shù)據(jù)表明四引腳新方案的焊后平均墊高為3.25mil比兩引腳舊方案的焊后平均墊高4.35mil要低一些。在使用專用推力測試夾具測試的過程中新開關(guān)的方案沒有發(fā)現(xiàn)任何輕觸開關(guān)剝離和翹起的不良。在完成組裝后的拆卸驗證時也沒有發(fā)現(xiàn)任何不良。

輕觸開關(guān)在醫(yī)療儀器上的翹起和焊點(diǎn)開裂問題

拼板方案和分板夾具改善

經(jīng)過有限元FEA模擬優(yōu)化后的建議,拼板的連接位置遠(yuǎn)離開關(guān),分板夾具也隨之優(yōu)化。使用專用推力測試夾具測試,沒有發(fā)現(xiàn)任何輕觸開關(guān)剝離和翹起。在完成組裝后的拆卸驗證時也沒有發(fā)現(xiàn)任何不良。

結(jié)論

本案例的研究表明應(yīng)力測試分析,有限元FEA分析,公差累計TSA分析和可制造性設(shè)計DFA分析等一系列系統(tǒng)的分析方法對于尋找根本原因的工程分析中非常有用。輕觸開關(guān)翹起和焊點(diǎn)開裂失效有以下影響因素:

無懸空的四引腳輕觸開關(guān)比有60um懸空的兩引腳輕觸開關(guān)具備更高的抗機(jī)械應(yīng)力的能力。

定位引腳與定位孔之間的公差累計與SMT貼片的穩(wěn)定性和輕觸開關(guān)機(jī)械應(yīng)力的產(chǎn)生有一定的關(guān)聯(lián)。

限位特征的設(shè)置對輕觸開關(guān)的可靠性非常重要。

拼板設(shè)計中的連接位置在分板時對元件的應(yīng)力影響很大,在設(shè)計之初需要進(jìn)行有限元分析。在實(shí)際生產(chǎn)中要通過應(yīng)力測試進(jìn)行檢驗。